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wenzhang:1410:wanghy

用X射线衍射仪测量普朗克常量

王合英; 孙文博
( 清华大学物理系 )

  摘 要: 讨论了用X射线衍射仪测量普朗克常量的误差来源和改进方法.由于仪器结构和所用透明单晶样品对谱线的展宽效应使不同电压对应的最短波长测量值减小,在计算普朗克常量时应对实验测量的各最短波长进行修正.结果表明用修正的最短波长拟合得到的普朗克常量与理论值基本一致.
  关键词: 普朗克常量; X射线衍射仪; 谱线展宽
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wenzhang/1410/wanghy.txt · 最后更改: 2016/04/15 19:49 由 guoweilw