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wenzhang:1608:mxh

利用白光的双缝干涉测量介质薄膜的折射率

马晓航a,熊畅b,陈楷东c,唐芳b,李朝荣b
(1.北京航空航天大学 a.仪器科学与光电工程学院;b.物理科学与核能工程学院;c.航空科学与工程学院,北京 100191)

  摘 要: 利用白光双缝干涉测定介质膜折射率,在双缝前加装待测介质薄膜,通过测微目镜中零级白色条纹在加装前后的位移,测定待测介质薄膜的折射率. 此方法有现象明显、操作简便的优点.
  关键词: 白光;特制双缝;全息干板膜;折射率
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wenzhang/1608/mxh.txt · 最后更改: 2016/08/17 21:59 由 guoweilw