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wenzhang:1610:rsn

硅漂移探测器用于X射线标识谱与吸收实验

冉书能,贾春燕,吴思诚
(北京大学 物理学院,北京 100871)

  摘 要: 利用硅漂移探测器测量不同元素的标识X射线,验证莫塞莱定律,计算屏蔽系数并解释其变化规律. 利用不同厚度的镍吸收片做铜的标识X射线吸收,结果表明:单色化铜的标识X射线所需镍片的最佳厚度约为20 μm.
  关键词: 硅漂移探测器;X射线标识谱;屏蔽系数;能量分辨率
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wenzhang/1610/rsn.txt · 最后更改: 2016/10/25 14:53 由 guoweilw