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wenzhang:2010:wx

X射线衍射在安检技术领域的研究进展

王新,李明涛,杨宝璐,徐捷,方恺,穆宝忠
(同济大学 物理科学与工程学院,上海 200092)

  摘 要: 能量色散X射线衍射能够从分子结构上实现对晶体类违禁品的识别,因而成为解决安检领域违禁品精确查缉的新途径. 本文简述了晶体的X射线衍射、角度色散(ADXRD)和能量色散(EDXRD)X射线衍射理论. 围绕安检领域违禁品检测,介绍了能量色散X射线衍射的光学构型、特点及发展历程. 分析能量色散X射线衍射安检技术在检测效率、技术难度及成本等方面遇到的问题与挑战,介绍了同济大学提出的复合式安检方案(对初检后存疑的物品进行EDXRD检测),并详细介绍了具体研发的螺旋阵列式EDXRD系统,实现了垂直方向的大范围探测,利用该系统对违禁品进行测试,检测准确率高达90%以上.
  关键词: X射线衍射;能量色散;晶体结构;安检

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wenzhang/2010/wx.txt · 最后更改: 2020/11/08 10:32 由 guoweilw